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在线式高低温试验箱

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在线式高低温试验箱通过在箱体视窗或门体上科学布局的操作孔,配合高性能的保温密封装置,使工程师能够在不中断试验、不打开试验箱箱门的情况下完成对被测样品的连线、监控、供电乃至物理动作等一系列操作。广泛应用于光通信、电子、芯片等领域的可靠性测试。
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产品详情

在线式高低温试验箱

一、产品定义与原理

在线式高低温试验箱是一种专为需要在不中断温湿度试验过程,对被测物进行外部连接、操作及实时监测的可靠性测试设备。与常规高低温试验箱相比,其重要创新在于集成了特殊操作孔装置。该装置在试验箱箱门或视窗玻璃上预设一个或两个具备高密封性与低导热性的贯通孔,可以实现测试人员无需打开箱门即可进行供电控制、信号注入与采集、功能插拔(如光模块热插拔)等一系列操作,从根本上杜绝了因开门导致的箱内环境参数(温度、湿度)剧烈波动与恢复延时,确保了试验条件的连续性与数据采集的时序一致性,尤其契合光器件三温测试等高精度在线式高低温试验箱应用方案的要求。这也是该装置与业内讲的测试孔的重要区别。

二、关键应用场景

在线式高低温试验箱主要服务于对温度试验、温湿度试验过程连续性、数据完整性和操作实时性有严苛要求的研发与质量验证环节。

光通信与数据中心设备:用于光模块、光收发器及有源光缆(AOC) 的“三温”(高温、常温、低温)性能测试与老化测试。测试中,需动态监测其光功率、消光比、误码率等参数,并进行反复热插拔以验证接口可靠性,在线式高低温试验箱为此提供了必需的不间断温度环境。

汽车电子:应用于车规级芯片、域控制器、传感器模块的在线功能测试。在模拟发动机舱高温、冬季低温等工况时,需持续施加电应力并读取总线信号(如CAN、LIN),评估其功能状态。

消费电子与半导体:适用于智能手机核心板、存储芯片、电源管理IC等在温度循环下的在线烧录、功能调试与参数标定。这使其成为满足高密度集成电路测试要求的在线式高低温试验箱的理想选择。

三、主要技术参数与规格

以下为本系列在线式高低温试验箱的标准技术参数框架,具体规格可根据需求进行定制。

型号

B-T-120(A-E)

B-T-225(A-E)

B-T-504 (A-E)

B-T-1000 (A-E)

工作尺寸(cm)

45×60×45

60×75×50

70×90×80

100×100×100

温度范围

-70℃~150℃(180℃)

A:0℃ B:-20℃ C:-40℃  D:-60℃  E:-70℃~150℃/180℃

操作孔

孔径(Φ100mm/Φ120mm)、数量、位置可定制(不开门拿取被测物、操作)

升温速率

3.0℃ ~ 15.0℃/min(线性/非线性,空载) 从低温点到高温点的平均速率,可编程控制。

降温速率

1.0℃ ~ 15.0℃/min(线性/非线性,空载) 从高温点到低温点的平均速率,可编程控制。

控制系统

彩色触摸屏控制器,支持多段程序编程,具备以太网或RS-485通讯接口。

制冷系统

根据需求选用复叠式或单级压缩机制冷系统。

四、技术优势总结

在线式高低温试验箱将环境可靠性测试从传统的“静态-中断-恢复”模式,升级为“动态-连续-实时”的新范式。它不仅提升了测试效率与能源利用效率,更重要的是确保了测试应力施加的连续性与数据点的真实性,为产品可靠性评估提供了具备高度一致性与可比性的数据基础,是支撑精密制造业研发与质量体系的关键装备。


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在线式高低温试验箱

一、产品定义与原理

在线式高低温试验箱是一种专为需要在不中断温湿度试验过程,对被测物进行外部连接、操作及实时监测的可靠性测试设备。与常规高低温试验箱相比,其重要创新在于集成了特殊操作孔装置。该装置在试验箱箱门或视窗玻璃上预设一个或两个具备高密封性与低导热性的贯通孔,可以实现测试人员无需打开箱门即可进行供电控制、信号注入与采集、功能插拔(如光模块热插拔)等一系列操作,从根本上杜绝了因开门导致的箱内环境参数(温度、湿度)剧烈波动与恢复延时,确保了试验条件的连续性与数据采集的时序一致性,尤其契合光器件三温测试等高精度在线式高低温试验箱应用方案的要求。这也是该装置与业内讲的测试孔的重要区别。

二、关键应用场景

在线式高低温试验箱主要服务于对温度试验、温湿度试验过程连续性、数据完整性和操作实时性有严苛要求的研发与质量验证环节。

光通信与数据中心设备:用于光模块、光收发器及有源光缆(AOC) 的“三温”(高温、常温、低温)性能测试与老化测试。测试中,需动态监测其光功率、消光比、误码率等参数,并进行反复热插拔以验证接口可靠性,在线式高低温试验箱为此提供了必需的不间断温度环境。

汽车电子:应用于车规级芯片、域控制器、传感器模块的在线功能测试。在模拟发动机舱高温、冬季低温等工况时,需持续施加电应力并读取总线信号(如CAN、LIN),评估其功能状态。

消费电子与半导体:适用于智能手机核心板、存储芯片、电源管理IC等在温度循环下的在线烧录、功能调试与参数标定。这使其成为满足高密度集成电路测试要求的在线式高低温试验箱的理想选择。

三、主要技术参数与规格

以下为本系列在线式高低温试验箱的标准技术参数框架,具体规格可根据需求进行定制。

型号

B-T-120(A-E)

B-T-225(A-E)

B-T-504 (A-E)

B-T-1000 (A-E)

工作尺寸(cm)

45×60×45

60×75×50

70×90×80

100×100×100

温度范围

-70℃~150℃(180℃)

A:0℃ B:-20℃ C:-40℃  D:-60℃  E:-70℃~150℃/180℃

操作孔

孔径(Φ100mm/Φ120mm)、数量、位置可定制(不开门拿取被测物、操作)

升温速率

3.0℃ ~ 15.0℃/min(线性/非线性,空载) 从低温点到高温点的平均速率,可编程控制。

降温速率

1.0℃ ~ 15.0℃/min(线性/非线性,空载) 从高温点到低温点的平均速率,可编程控制。

控制系统

彩色触摸屏控制器,支持多段程序编程,具备以太网或RS-485通讯接口。

制冷系统

根据需求选用复叠式或单级压缩机制冷系统。

四、技术优势总结

在线式高低温试验箱将环境可靠性测试从传统的“静态-中断-恢复”模式,升级为“动态-连续-实时”的新范式。它不仅提升了测试效率与能源利用效率,更重要的是确保了测试应力施加的连续性与数据点的真实性,为产品可靠性评估提供了具备高度一致性与可比性的数据基础,是支撑精密制造业研发与质量体系的关键装备。


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联系电话:18017970031  400-691-8199 

联系邮箱:xiaoshou2@boyitest.com

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