PCB绝缘可靠性检测设备——上海柏毅CAF离子迁移测试系统

上海柏毅CAF离子迁移测试系统专为PCB、FPC、HDI线路板设计，提供一站式绝缘可靠性验证方案。系统具备全时在线监测、256通道并行测试、实时检测泄漏电流与绝缘电阻，以及双八五环境模拟等功能。通过精确捕捉离子迁移现象，帮助PCB企业提升产品可靠性，降低市场失效风险。上海柏毅拥有20年环境测试设备经验，服务100+客户，提供终身技术支持和定期校准服务。

参数日期：2025-03-25 22:10:32

新闻信息

日期：2025-03-25 22:10:32

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PCB绝缘可靠性检测设备——上海柏毅CAF离子迁移测试系统

日期：2025-03-25 22:10:32

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珠海TDK两厢冷热冲击箱成功交付

IST互连应力测试系统

引言：

随着电子产品趋向微型化和高密度化，印刷电路板（PCB）的层间间距不断缩小。在高温高湿环境下，如双八五条件（85℃/85%RH）下，离子迁移（CAF）现象成为电路绝缘失效的主要原因。金属离子沿玻璃纤维界面迁移形成导电路径，轻则造成信号干扰，重则导致短路，直接影响产品的使用寿命和安全性。间歇性电阻测试的传统检测方法易受环境波动影响，掩盖真实问题。因此，实现全时监测并精确捕捉绝缘劣化信号变得至关重要。上海柏毅的CAF离子迁移测试系统为此提供了有效的解决方案。

上海柏毅CAF离子迁移测试系统的技术优势：解决方案

上海柏毅自主研发的CAF离子迁移测试系统，专为PCB、FPC、HDI线路板设计，配备恒温恒湿试验箱，提供一站式绝缘可靠性验证方案：

全时在线监测，确保数据完整性
支持256通道并行测试（可扩展至320通道），能够同时对多组线路施加1500V高压，模拟极限工况。
实时检测泄漏电流与绝缘电阻，避免传统方法因取出PCB导致的干燥干扰，精确捕捉离子迁移发生时刻。
双八五环境模拟，加速失效验证
内置温湿度传感器与试验箱联动，确保测试全程稳定处于85℃、85%RH环境，加速材料老化，缩短研发周期。
支持500V-1500V连续可调偏置电压，适应不同耐压等级的PCB产品测试需求。
智能分析与定制化报告
配备**数据分析软件，可追踪电阻变化曲线、自定义失效阈值（如电阻值≤1MΩ判定失效），一键生成图文报告，支持PDF/Excel格式导出。
系统自检功能自动识别电缆开路/短路，确保测试稳定性，降低人工干预成本。

**厂商的选择与反馈：应用案例

上海柏毅CAF离子迁移测试系统已通过多家头部PCB企业的严格验证，成为其提升产品可靠性的**工具：

在0.1mm线距的HDI板生产中，系统实时捕捉到玻璃纤维与树脂界面因热应力产生的微米级裂纹，监测到绝缘电阻从10GΩ骤降至50MΩ，提前预警潜在失效风险，助力良品率提升12%。
针对车规级PCB的双八五环境测试需求，系统通过64通道并行加压，在500小时连续测试中识别出3处离子迁移路径，帮助优化阻焊油墨配方，一次性通过AEC-Q100认证。
采用256通道高压版系统，对高频高速板的层间绝缘材料进行1500V耐压测试，发现树脂填充不均导致的局部漏电流异常，改良后产品市场失效率降低60%。

为何选择上海柏毅？

自主研发实力：20年环境测试设备经验，累计服务华为、盛宏、华测、比亚迪等100+客户。

全场景适配：系统兼容PCB、FPC、HDI、IC封装材料、绝缘漆等多类产品检测。

终身服务保障：终身技术支持、48小时响应售后、定期校准支持。

技术参数解析：**适配多场景需求

上海柏毅提供B-MIRD-1508（高压版）与B-MIRD-0502（标准版）双版本系统，满足不同层级检测需求（可定制）：

**能力	B-MIRD-1508（高压版）	B-MIRD-0502（标准版）
通道扩展	256通道（最大支持320通道）	64通道（最大支持320通道）
偏置电压范围	10-1500VDC连续可调	10-500VDC连续可调
绝缘电阻测试精度	±1%（1M-100MΩ），±3%（100M-1GΩ）	±1%（1M-100MΩ），±3%（100M-1GΩ）
适用场景	车规级PCB、**电子、大功率储能设备	消费电子、通信设备、医疗仪器
独特优势	支持1500V耐压测试，可模拟极端工况	性价比高，满足常规高湿老化验证需求